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AUW-D系列半微量分析天平

  • 精度:
    • 0.01mg/十万分之一
    • 0.1mg/万分之一
  • 最大量程:
    • 0~49g
    • 100~199g
  • 类型:
    • 双量程
  • 校准:
    • 内校
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 率先在AUW-D系列半微量天平中使用新一代传感器Unibloc

  全自动内校:PSC和Clock-CAL

使用者可以使用两中全自动校准模式。“PSC”是根据当温度发生变化,天平会自动校准,而“Clock-CAL” 是在预定的时间,天平会自动校准。

 GLP/GMP/ISO校准记录

通过打印机,校准记录可以自动打印输出。
时间、日期可以打印输出,符合GLP/GMP/ISO要求

 Windows直通视窗

测定数据可直接输到Windows应用程序上,无需安装其它软件。
如果您要把“Windows直通视窗”用在“Windows  7”、“Windows VISA ”或者USB输出中,可联系我们当地代理商。

 





型号 量程(g) 精度(mg) 重复性(mg) 线性(mg) 平均响应时间(S) 称盘尺寸(mm)
AUW220D 220/82 0.1/0.01 0.1/0.05 0.2/0.1 3/15 80
AUW120D 120/42 0.1/0.01 0.1/0.02 0.2/0.03 3/12 80
 

 

售后保障
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